텍트로닉스, 포괄성 탁월한 PAM4 분석 솔루션 발표 실시간 및 등가 시간 오실로스코프에서 모두 작동
텍트로닉스가 급증하는 PAM4 변조측정 수요에 대응하여 광학 및 전기 인터페이스를 완벽하게 지원하는 업계에서 가장 포괄적인 분석 툴을 발표했다. 텍트로닉스에 의하면, 새 툴은 DPO70000SX 70GHz 실시간 오실로스코프 및 DSA8300 등가시간 오실로스코프 모두에서 작동하므로, 특정 애플리케이션에 필요한 계측기 구성에 관계없이 가장 높은 정확도로 최상의 결과를 제공한다. PAM4는 400G(일반적으로 8 x 50G) 전기 및 광학 인터페이스에 대한 IEEE P802.3bs 실무그룹의 최신 400기가비트 이더넷 표준에 채택되고 있으며, 2레벨 신호처리를 사용하는 기존 NRZ에 비해 신호 복잡성을 크게 증가시키고, 성능및 노이즈 감도와 관련하여 새로운 차원의 테스트 장비에 대한 수요를 불러일으킨다. 광학 및 전기 영역을 모두 지원하는 공용 툴 세트를 사용함으로써 13GBaud~56GBaud 범위의 PAM4 신호를 안정적으로 특성화할 수 있는 기능은 새로운 변조 방법론을 추진하는 데 핵심적인 요소이다. 또한, DPO70000SX 및 DSA8300 오실로스코프에서 업계 최고수준의 저 노이즈 성능을 제공해, 엔지니어와 연구원들이 멀티레벨 직접 변조분석에 직접 적용되는 강력하고, 정확한 신호획득 테스트시스템을 선택할 수 있다. PAM4에서 사용되는 멀티레벨신호를 분석하려면 복수의 비트 상태를 정확하게 획득하고 분석할 수 있는 낮은 노이즈와 뛰어난 신호 대 잡음비를 제공하는 오실로스코프가 필요하다. 텍트로닉스 DPO70000SX 오실로스코프는 기존 주파수 인터리빙 방식 오실로스코프에 비해 최대 30% 낮은 저 노이즈 획득기능을 제공하는 ATI(비 동기 시간 인터리빙) 기술을 사용함으로써 광학 PAM4 측정분석 또한 저 노이즈 획득에 따른 장점을 활용할 수 있으며, 텍트로닉스는 DSA8300시리즈 샘플링 오실로스코프에서 사용할 수 있는 광학 획득기술을 통해 최대 클럭 복구가 진행되는 경우에도 현재 업계에서 가장 낮은 노이즈와 가장 높은 감도를 제공한다. 특히, 텍트로닉스 80C15/CRTP 광학모듈의 노이즈 성능은 TDEC 및 SR4 적합성 측정기능의 완벽한 조합과 함께 광학 PAM4 분석에 최적이다.
장바구니
주문내역
: 
